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Fuente de alimentación de CC programable multicanal de alta precisión serie N23010

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Fuente de alimentación CC programable de alta precisión de 23010 canales serie N24
N23010 panel frontal
Configuración N23010
N23010 panel trasero
Fuente de alimentación de CC programable multicanal de alta precisión serie N23010
Fuente de alimentación de CC programable multicanal de alta precisión serie N23010
Fuente de alimentación de CC programable multicanal de alta precisión serie N23010
Fuente de alimentación de CC programable multicanal de alta precisión serie N23010

Fuente de alimentación de CC programable multicanal de alta precisión serie N23010


La serie N23010 es una fuente de alimentación de CC programable multicanal de alta precisión especialmente desarrollada para la industria de semiconductores, que puede proporcionar energía pura, estable y de alta precisión para chips, y cooperar con la cámara de pruebas ambientales para una serie de pruebas de confiabilidad ambiental. . Su precisión de voltaje es de hasta 0.01%, admite medición de corriente de nivel μA, hasta 24 canales para una sola unidad, admite control local/remoto (LAN/RS232/CAN) para satisfacer las necesidades de pruebas automáticas por lotes de chips.

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Características principales

●Precisión de voltaje 0.6mV

●Estabilidad a largo plazo 80ppm/1000h

●Hasta 24 canales para una sola unidad

●Ruido de ondulación de voltaje ≤2mVrms

●Chasis 19U estándar de 3 pulgadas

● Desarrollado para la industria de los semiconductores

Los campos de aplicación

Prueba de fuga de corriente de semiconductor/chip IC

Funciones y ventajas

La precisión y la estabilidad garantizan la fiabilidad de la prueba

La prueba de confiabilidad generalmente requiere que varios chips funcionen durante mucho tiempo bajo una fuente de alimentación. Tome HTOL como ejemplo, la cantidad de muestras es de al menos 231 piezas y el tiempo de prueba es de hasta 1000 horas. La precisión del voltaje N23010 es de 0.6 mV, la estabilidad a largo plazo es de 80 ppm/1000 h, el ruido de ondulación del voltaje ≤2 mVrms puede garantizar de manera efectiva la confiabilidad del proceso de prueba del usuario, protección integral y garantizar la seguridad de los instrumentos y productos bajo prueba.

prueba de precisión y estabilidad

Integración ultra alta, ahorro de inversión del usuario

En el proceso de I+D de chips, diagrama de flujo y producción en masa. Generalmente es necesario realizar pruebas de confiabilidad en múltiples grupos de muestras. Además, la corriente de fuga del chip o del tablero articulado también es un índice de prueba importante. El esquema tradicional generalmente adopta múltiples fuentes de energía lineales con muestreo de datos, lo cual es complicado de conectar y ocupa espacio de prueba. El N23010 integra hasta 24 canales de alimentación en un chasis 19U de 3 pulgadas para admitir mediciones de corriente de nivel μA, lo que proporciona una solución altamente integrada para pruebas de chips a gran escala.

Respuesta dinámica rápida

N23010 proporciona una capacidad de respuesta dinámica rápida, bajo la salida de voltaje total, la carga cambia del 10% al 90%, la recuperación de voltaje a la reducción de voltaje original dentro de un tiempo de 50 mV es inferior a 200 μs, puede garantizar que el voltaje o la corriente aumenten la forma de onda dentro alta velocidad y sin sobreimpulso, y puede proporcionar un suministro de energía estable para el chip bajo prueba.

Edición de secuencia

N23010 admite la función de edición de secuencia. Los usuarios pueden configurar el voltaje de salida, la corriente de salida y el tiempo de funcionamiento de un solo paso. Se pueden personalizar localmente 100 grupos de secuencias de voltaje y corriente.

Edición de secuencia

Varias interfaces de comunicación, cumplen con el requisito de prueba automática

Compatible con puerto RS232, LAN, CAN, conveniente para que los usuarios construyan un sistema de prueba automático.

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Consulta

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